詳細資料：

HX-500蓄電池內阻測試儀

u概述

HX-500蓄(xu)電(dian)池內阻計是目前國(guo)內功(gong)能(neng)和性能(neng)zui強的蓄電池測試設備。它是一款多(duo)用途的儀器，功(gong)能(neng)zui多(duo)，支持國(guo)內、國(guo)外標準。可以測試2V，4V，6V，8V，12V，24V，48V，60V的各種(zhong)類型蓄電(dian)(dian)池，也可以(yi)測試(shi)各種(zhong)導體、金(jin)屬連接件的電(dian)(dian)阻，測試(shi)精度達到(dao)1μΩ。分(fen)析儀(yi)內部(bu)采用了超大規模集成電路及性(xing)能強大的(de)微處理器(qi),可(ke)以采用(yong)RS232,TCP/IP接口對外進行數據交換，同時(shi)，采用了大屏幕(mu)彩色LCD顯示，分析(xi)儀本(ben)身就可以實現(xian)測試(shi)數(shu)據的(de)分析(xi)、顯示及(ji)報表(biao)輸出(chu)。是一(yi)款(kuan)適合電力，通信運營商等(deng)部(bu)門使用的(de)高(gao)檔儀表(biao)。

u功能

l蓄(xu)電池內阻檢測(ce)：內阻測(ce)試(shi)范圍從1μΩ--400Ω全量程自(zi)動檢測(ce)，精度*。

l可以測試(shi)蓄電(dian)池(chi)連接條電(dian)阻。

l可*存儲10000組電(dian)池(chi)參數（每組zui多500節電(dian)池(chi)）

l內(nei)部可以*設定1000個類型蓄電(dian)池比較器數據，測試結果(guo)直接和比較器數據比較。

l可以自動或者手(shou)工編號，自動對(dui)蓄(xu)(xu)電池(chi)組的單(dan)體(ti)及蓄(xu)(xu)電池(chi)組合并建立測試(shi)數據，很大方便對(dui)多個單(dan)體(ti)的    蓄(xu)(xu)電池(chi)組測試(shi)形成記錄。不管是24個(ge)單體或者(zhe)108個(ge)單體(ti)的蓄電池(chi)組(zu)(zu)，均可有(you)效記(ji)錄并形成組(zu)(zu)記(ji)錄。

l直接形成蓄電池組的單體(ti)測試信息報表(biao)、顯示及(ji)測試數據分布曲線。

l可以(yi)記錄(lu)蓄電池(chi)組的充電電量、放電電量，是研究(jiu)、分析蓄電池(chi)性(xing)能(neng)、效率(lv)的科學(xue)工具。非常適合蓄電池(chi)研究機構使用。

l具備(bei)RS232及TCP/IP接口(kou)，可以(yi)實(shi)現遠(yuan)程操作，現場(chang)數(shu)據可以(yi)傳(chuan)送到遠(yuan)端進行分析(xi)及存儲，形(xing)成大量的分析(xi)數(shu)據。

HX-500蓄電池內阻測試儀

u特點

l內(nei)置鋰電(dian)池(chi)，可以手持移動(dong)操作(zuo)，也支持外部供電(dian)操作(zuo)；無外電(dian)工作(zuo)時(shi)間超過8小時(shi)；

l網絡接(jie)口豐(feng)富：具(ju)備RS232接(jie)口，也具(ju)備TCP/IP接(jie)口；接(jie)受遠程命令下載或者上傳數據(ju)；后(hou)臺系(xi)統軟件(jian)可以透過網絡自動發現設備并(bing)建立連(lian)接(jie)，并(bing)根(gen)據(ju)設定的時間(jian)自動采集數據(ju)并(bing)形成報(bao)表；

l檢測多種類(lei)型蓄電(dian)池：可(ke)以檢測2V，4V，6V，8V，12V，24V，48V，60V的各種類(lei)型蓄電(dian)池；電(dian)壓測試范圍0-100V。

l儀(yi)表在1μΩ--400Ω測量范圍內自動量程切換。

l多種檢測模式：支(zhi)持單(dan)次測試(shi)，也支(zhi)持自動定時實時測試(shi)；

l存(cun)儲(chu)容量(liang)大：具備海量(liang)FLASH存(cun)儲(chu)器(qi)，可(ke)以存(cun)儲(chu)大量(liang)測(ce)試數據（大于15萬(wan)條）；

l顯(xian)示模式：具(ju)備輕觸操作(zuo)的按鍵及(ji)3.5吋真彩LCD背光液晶中文，支持多國(guo)語言顯(xian)示輸出。

l可以測試任何類型電(dian)池及導(dao)體(ti)的內阻。包括干(gan)電(dian)池，鋰(li)電(dian)池，特種電(dian)池。

l內置高精度時鐘萬年(nian)歷，每次測試(shi)數據自(zi)動(dong)帶測試(shi)時間(jian)記錄(lu)；

l采用寬溫芯片：能在-10～+50℃寬溫條(tiao)件下(xia)正常工作，滿足(zu)各(ge)種惡劣條(tiao)件下(xia)的測試；

儀表結構堅固，特別適合(he)于野外作業。

u指標