詳細資料：

XP1-HTHL-100P接(jie)觸電(dian)阻測試儀(yi)

產品別(bie)名(ming)

接觸(chu)(chu)電(dian)阻(zu)(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)、開關回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)、接觸(chu)(chu)回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)、接觸(chu)(chu)(回(hui)路(lu))電(dian)阻(zu)(zu)測(ce)試(shi)儀(yi)  

目前，電(dian)(dian)(dian)力(li)系統(tong)中(zhong)普(pu)遍采用(yong)常(chang)規的(de)QJ44型雙臂直流(liu)電(dian)(dian)(dian)橋(qiao)測(ce)量(liang)(liang)接(jie)觸電(dian)(dian)(dian)阻，而這類(lei)電(dian)(dian)(dian)橋(qiao)的(de)測(ce)試電(dian)(dian)(dian)流(liu)僅m*，難(nan)以發現回(hui)(hui)路(lu)(lu)(lu)導(dao)體截面積減少(shao)的(de)缺陷(xian)。在測(ce)量(liang)(liang)高(gao)壓開(kai)關導(dao)電(dian)(dian)(dian)回(hui)(hui)路(lu)(lu)(lu)接(jie)觸電(dian)(dian)(dian)阻時，由于受觸頭之間油(you)膜和氧化層的(de)影響，測(ce)量(liang)(liang)值(zhi)偏大若干(gan)倍(bei)，無法真實(shi)的(de)反映接(jie)觸電(dian)(dian)(dian)阻值(zhi)。為此，電(dian)(dian)(dian)力(li)部標準DL/T845.4—2004《電(dian)(dian)(dian)阻測(ce)量(liang)(liang)裝置(zhi)通用(yong)技術條件：回(hui)(hui)路(lu)(lu)(lu)電(dian)(dian)(dian)阻測(ce)試儀》和新版(ban)檢(jian)定規程(cheng)JJG1052-2009《回(hui)(hui)路(lu)(lu)(lu)電(dian)(dian)(dian)阻測(ce)試儀、直阻儀檢(jian)定規程(cheng)》作出對測(ce)量(liang)(liang)（隔離(li)）開(kai)關、斷路(lu)(lu)(lu)器(qi)等接(jie)觸電(dian)(dian)(dian)阻的(de)測(ce)量(liang)(liang)電(dian)(dian)(dian)流(liu)不小(xiao)于直流(liu)100A，zui小(xiao)電(dian)(dian)(dian)流(liu)維持時間不低于60S的(de)規定，確保試驗結果準確。  

XP1-HTHL-100P高精度回路電阻測試儀操作(zuo)面板采(cai)用(yong)(yong)人體工學(xue)設(she)(she)計，符(fu)合(he)操作(zuo)習(xi)慣，采(cai)用(yong)(yong)高頻開(kai)(kai)關(guan)電(dian)(dian)源和數(shu)字電(dian)(dian)路(lu)技術(shu)，適用(yong)(yong)于開(kai)(kai)關(guan)控制設(she)(she)備回路(lu)電(dian)(dian)阻的(de)測(ce)量。測(ce)試(shi)(shi)電(dian)(dian)流采(cai)用(yong)(yong)國(guo)(guo)家標準(zhun)推薦的(de)直(zhi)流100A。可在直(zhi)流100A的(de)情況(kuang)下直(zhi)接測(ce)得回路(lu)電(dian)(dian)阻，測(ce)試(shi)(shi)結果用(yong)(yong)大屏幕(mu)液晶LCD顯(xian)示，并有數(shu)據(ju)存儲、輸(shu)出打印、時(shi)間(jian)(jian)設(she)(she)置(zhi)等功能，另有50A檔(dang)位(wei)供用(yong)(yong)戶(hu)選擇；自定義測(ce)試(shi)(shi)時(shi)間(jian)(jian)，zui大設(she)(she)定時(shi)間(jian)(jian)599S,遠大于標準(zhun)規(gui)定的(de)60S；是國(guo)(guo)內*能達(da)到0.01μΩ分辨率且十分穩定的(de)接觸電(dian)(dian)阻測(ce)試(shi)(shi)儀，性能超(chao)過進口大電(dian)(dian)流微(wei)歐計。符(fu)合(he)電(dian)(dian)力(li)、供電(dian)(dian)部門現場(chang)高壓(ya)開(kai)(kai)關(guan)維修和高壓(ya)開(kai)(kai)關(guan)廠回路(lu)電(dian)(dian)阻測(ce)試(shi)(shi)的(de)要求。  

XP1-HTHL-100P接觸電阻測(ce)試(shi)儀

產品(pin)特征(zheng)  

1、大電流：采用開關電源技術，能長時(shi)間連(lian)續輸出大電流，克服了(le)脈沖式電源瞬間電流的弊(bi)端(duan)，可以(yi)有效的擊穿開關觸頭氧化(hua)膜，得到良好的測試結果  

2、高穩(wen)(wen)定性(xing)：在嚴重(zhong)干擾(rao)條件(jian)下，液晶屏zui后一位數據能穩(wen)(wen)定在±1個字(zi)范圍內，讀數穩(wen)(wen)定，重(zhong)復性(xing)好  

3、高精度：采用(yong)雙路(lu)高速16位Σ－ΔAD采樣，數字信號處理技(ji)術，zui高分辨力達到0.01μΩ，是目前(qian)國內(nei)*能達到0.01μΩ分辨力且十分穩(wen)定的接觸電阻測(ce)試儀，  

性能(neng)超過了進口大(da)電(dian)流微歐計  

4、智能化：口高性能CPU，測量時(shi)系統(tong)根據信號大小自動切換(huan)量程(cheng)，確(que)保測試(shi)準確(que)度。過(guo)(guo)溫保護電路能夠(gou)在(zai)儀器超過(guo)(guo)設定溫度時(shi)自動停(ting)止輸出電流，確(que)保儀器安(an)全使用  

5、高品質：關鍵部(bu)件全部(bu)采用進口元件，通過巧妙(miao)設計的溫(wen)度補償(chang)電(dian)路(lu)有效的消除環境溫(wen)度對(dui)測量結果(guo)的影響(xiang)，jun品接插件的使用增強了(le)抗(kang)振性能  

6、功能強大：電流流50A、100A中自由選擇，測(ce)試時(shi)(shi)間在5s~599s內任意設定，克服其他(ta)同類(lei)儀器無法設定測(ce)量時(shi)(shi)間或(huo)連(lian)續工(gong)作(zuo)時(shi)(shi)間過(guo)(guo)短的(de)缺陷(xian)，遠遠超過(guo)(guo)其他(ta)同類(lei)儀器的(de)性  

能  

7、人機界(jie)面友好(hao)：旋轉(zhuan)鼠標(biao)輸入數(shu)據(ju)，方便快捷，自主設置儀器日期、時間(jian)，實時保存測(ce)量(liang)數(shu)據(ju)，即時打印測(ce)量(liang)結果  

8、USB轉(zhuan)存：通過USB接(jie)口將(jiang)測(ce)量數(shu)據轉(zhuan)存到U盤，結合上位機軟件對測(ce)量數(shu)據進一步分析處理  

9、使(shi)用(yong)方便：體(ti)積小、重(zhong)量輕(qing)，便于攜帶