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XP1-HTHL-100P接觸回路電阻測試儀

XP1-HTHL-100P接觸回路電阻測試儀

型 號:
報 價: 3000

XP1-HTHL-100P接(jie)觸(chu)回(hui)路電(dian)(dian)阻測試儀(yi)操作面板采用(yong)人體工學設(she)計(ji),符合(he)操作習慣,采用(yong)高(gao)頻開關(guan)電(dian)(dian)源和數字電(dian)(dian)路技術,適用(yong)于(yu)(yu)開關(guan)控制設(she)備回(hui)路電(dian)(dian)阻的(de)(de)測量。測試電(dian)(dian)流(liu)(liu)采用(yong)國(guo)家標準(zhun)推(tui)薦的(de)(de)直(zhi)(zhi)流(liu)(liu)100A。可在(zai)直(zhi)(zhi)流(liu)(liu)100A的(de)(de)情況(kuang)下直(zhi)(zhi)接(jie)測得(de)回(hui)路電(dian)(dian)阻,測試結果用(yong)大(da)屏幕液晶(jing)LCD顯(xian)示,并有(you)(you)數據存儲、輸出打印、時(shi)間(jian)(jian)設(she)置(zhi)等功(gong)能,另(ling)有(you)(you)50A檔(dang)位(wei)供用(yong)戶選擇;自定(ding)義(yi)測試時(shi)間(jian)(jian),Z大(da)設(she)定(ding)時(shi)間(jian)(jian)599S,遠大(da)于(yu)(yu)標準(zhun)規(gui)定(ding)的(de)(de)60S;

更新時間:2023-11-16

詳細資料:

產地類別國產

XP1-HTHL-100P接觸回路電阻測試儀

產(chan)品別名(ming)

接(jie)觸(chu)電阻測試(shi)(shi)儀(yi)(yi)、開關(guan)回(hui)路電阻測試(shi)(shi)儀(yi)(yi)、接(jie)觸(chu)回(hui)路電阻測試(shi)(shi)儀(yi)(yi)、接(jie)觸(chu)(回(hui)路)電阻測試(shi)(shi)儀(yi)(yi)  

目前(qian),電(dian)力系統中普遍采用常(chang)規(gui)的(de)(de)QJ44型雙臂直(zhi)流(liu)電(dian)橋測(ce)(ce)(ce)量(liang)接(jie)觸(chu)(chu)(chu)電(dian)阻(zu),而這類電(dian)橋的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試電(dian)流(liu)僅(jin)m*,難以(yi)發現(xian)回路導(dao)體截面積(ji)減少的(de)(de)缺(que)陷。在測(ce)(ce)(ce)量(liang)高壓開(kai)關(guan)導(dao)電(dian)回路接(jie)觸(chu)(chu)(chu)電(dian)阻(zu)時,由于(yu)受(shou)觸(chu)(chu)(chu)頭之(zhi)間(jian)油膜(mo)和氧化層(ceng)的(de)(de)影響,測(ce)(ce)(ce)量(liang)值偏大(da)若(ruo)干(gan)倍,無法真(zhen)實的(de)(de)反映接(jie)觸(chu)(chu)(chu)電(dian)阻(zu)值。為此(ci),電(dian)力部標(biao)準(zhun)DL/T845.4—2004《電(dian)阻(zu)測(ce)(ce)(ce)量(liang)裝置通用技術條件(jian):回路電(dian)阻(zu)測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)》和新版檢定規(gui)程(cheng)JJG1052-2009《回路電(dian)阻(zu)測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)、直(zhi)阻(zu)儀(yi)檢定規(gui)程(cheng)》作出(chu)對(dui)測(ce)(ce)(ce)量(liang)(隔離(li))開(kai)關(guan)、斷路器等(deng)接(jie)觸(chu)(chu)(chu)電(dian)阻(zu)的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)量(liang)電(dian)流(liu)不小于(yu)直(zhi)流(liu)100A,zui小電(dian)流(liu)維持時間(jian)不低于(yu)60S的(de)(de)規(gui)定,確保試驗結果準(zhun)確。  

XP1-HTHL-100P接觸回路電阻測試儀操作(zuo)面板(ban)采(cai)用人體(ti)工學設計(ji),符(fu)合(he)操作(zuo)習慣,采(cai)用高(gao)(gao)頻開(kai)關電(dian)(dian)源和數字電(dian)(dian)路(lu)(lu)技術,適用于開(kai)關控制設備回路(lu)(lu)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)的測(ce)量。測(ce)試(shi)電(dian)(dian)流(liu)采(cai)用國(guo)家標準推薦(jian)的直(zhi)流(liu)100A。可在直(zhi)流(liu)100A的情況下(xia)直(zhi)接測(ce)得回路(lu)(lu)電(dian)(dian)阻(zu)(zu),測(ce)試(shi)結果用大屏(ping)幕液晶(jing)LCD顯示(shi),并有數據(ju)存儲、輸出打印、時(shi)間設置等(deng)功能(neng),另(ling)有50A檔位供(gong)用戶選擇;自(zi)定義測(ce)試(shi)時(shi)間,zui大設定時(shi)間599S,遠(yuan)大于標準規(gui)定的60S;是國(guo)內*能(neng)達(da)到0.01μΩ分辨率且(qie)十分穩定的接觸電(dian)(dian)阻(zu)(zu)測(ce)試(shi)儀,性能(neng)超過(guo)進(jin)口大電(dian)(dian)流(liu)微歐計(ji)。符(fu)合(he)電(dian)(dian)力、供(gong)電(dian)(dian)部門現(xian)場高(gao)(gao)壓開(kai)關維(wei)修和高(gao)(gao)壓開(kai)關廠(chang)回路(lu)(lu)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)測(ce)試(shi)的要求。  

產(chan)品特征  

1、大電(dian)流(liu):采用開(kai)關電(dian)源(yuan)技術,能長時間連續輸出大電(dian)流(liu),克服了脈沖(chong)式電(dian)源(yuan)瞬間電(dian)流(liu)的(de)(de)弊端,可以有效的(de)(de)擊穿開(kai)關觸頭氧化膜,得到良好的(de)(de)測試結果  

2、高穩定性(xing):在嚴重(zhong)干擾條件下,液晶屏zui后一位數據(ju)能穩定在±1個字范圍內,讀數穩定,重(zhong)復性(xing)好  

3、高精度(du):采(cai)用(yong)雙路高速(su)16位(wei)Σ-ΔAD采(cai)樣,數字(zi)信號處理技術,zui高分(fen)辨力達到(dao)0.01μΩ,是目前(qian)國內*能達到(dao)0.01μΩ分(fen)辨力且(qie)十分(fen)穩定的(de)接觸電阻測試儀,  

性(xing)能超(chao)過(guo)了進口大電流微歐計  

4、智能化:口高性能CPU,測量時(shi)系統(tong)根據(ju)信號(hao)大小自動切換量程(cheng),確保(bao)測試(shi)準確度。過(guo)溫保(bao)護電路能夠在儀(yi)器超過(guo)設(she)定(ding)溫度時(shi)自動停止輸出電流,確保(bao)儀(yi)器安全(quan)使(shi)用  

5、高品質:關鍵部(bu)件全部(bu)采用進口元件,通(tong)過巧(qiao)妙(miao)設計的(de)(de)溫度補(bu)償電路有效的(de)(de)消除環境溫度對測量(liang)結(jie)果的(de)(de)影響,jun品接插(cha)件的(de)(de)使用增強了抗振性能  

6、功(gong)能強大:電流流50A、100A中(zhong)自(zi)由選擇,測試(shi)時(shi)間在5s~599s內任意設(she)(she)定(ding),克(ke)服其(qi)他同類儀器無(wu)法設(she)(she)定(ding)測量時(shi)間或連續(xu)工作時(shi)間過短(duan)的(de)缺陷,遠遠超過其(qi)他同類儀器的(de)性  

能  

7、人(ren)機界面友(you)好(hao):旋(xuan)轉鼠(shu)標(biao)輸入(ru)數(shu)據(ju),方便快(kuai)捷,自主設置(zhi)儀器日期、時間,實時保存測(ce)(ce)量(liang)數(shu)據(ju),即時打印測(ce)(ce)量(liang)結果  

8、USB轉存(cun):通過USB接口(kou)將(jiang)測(ce)量(liang)數據轉存(cun)到U盤,結(jie)合上位(wei)機軟(ruan)件對(dui)測(ce)量(liang)數據進一步(bu)分(fen)析(xi)處理  

9、使用方便:體積小、重量(liang)輕,便于攜帶


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